WEP055 　ポスター②　 10月19日 会議室P 13:00-15:00

高純度ニオブの焼鈍温度と引張強度の関係

Relation between tensile strength and annealing temperature for high purity niobium

○山中 将，嶋田 慶太（高エネ研）

○Masashi Yamanaka, Keita Shimada (KEK)

超伝導加速器に用いる高純度ニオブの焼鈍温度と引張強度の関係を実験的に求めた。残留抵抗比（RRR）>300のファイングレインニオブを用いて試験片を製作し、800～1100度の範囲で温度を変えて焼鈍し、室温で引張試験を行った。焼鈍温度が高くなると、引張強度が低下した。焼鈍後のRRR測定、硬さ測定、組織観察を合わせて行った。これらの結果を総合して、高純度ニオブの焼鈍温度と引張強度の関係を考察する。