WEP044  ポスター②  10月19日 会議室P 13:00-15:00
KEK-PFのローレベRF系更新の準備状況とプロトタイプ試験
The upgrade status of the KEK-PF low-level-RF system and performance test of their prototype
 
○内藤 大地,山本 尚人,高橋 毅(高エ研),岩城 孝志,寺田 晃,張替 豊旗,漁師 雅次(三菱電機特機システム株式会社),坂中 章悟(高エ研)
○Daichi Naito, Naoto Yamamoto, Takeshi Takahashi (KEK), Takashi Iwaki, Akira Terada, Toyoki Harigae, Masatugu Ryoshi (Mitsubishi Electric TOKKI Systems), Shogo Sakanaka (KEK)
 
KEKのPF 2.5 GeVリングでは今年度と来年度にかけてローレベルRF系の更新をおこなう。新システムはμTCA.4規格のeRTM, AMC, μRTMといったデジタル制御ボード群で構成する。eRTMはSPring-8で開発されたものを、AMCについてはJ-PARCで開発されたものを採用する。μRTMはJ-PARCで開発されたもののADC入力部とDIO部分を変更して用いる。前年度にはプロトタイプのμRTMボードの設計/製造を行なった。一方、ローレベル系のシステム構成や空洞の制御方式についてはSPring-8[1]やSuperKEKB[2]のシステムを参考に設計した。RF信号の取得についてはSPring-8で実績のあるアンダーサンプリング法[1]を採 用する。アンダーサンプリングのパラメータに関しては、次世代光源で有用な過渡的電圧 変動の補償に適したパラメータを採用する。こちらについても前年度に制御用ファームウェア1式を開発した。本発表では新しいローレベルRF系の構成や制御方式について説明したのち, ローレベルRF系のプロトタイプでの試験と更新の準備状況について報告する。[1]T. Ohshima et al.,Proc of PASJ2018. [2]T. Kobayashi et al.,Proc of PASJ2014.