WEP021 　ポスター②　 10月19日 会議室P 13:00-15:00

電気光学サンプリングを用いたシングルショット電子ビーム計測

Single-shot measurement of electron beam by electro-optic sampling

○菅 晃一（阪大産研），太田 雅人（阪大レーザー研），駒田 蒼一朗（三重大電気電子工），王 有為（阪大レーザー研・関大システム理工），C. Agulto Verdad，K. Mag-usara Valynn，有川 安信（阪大レーザー研），松井 龍之介（三重大電気電子工），坂和 洋一，中嶋 誠（阪大レーザー研）

○Koichi Kan (SANKEN(ISIR), Osaka University), Masato Ota (ILE, Osaka University), Soichiro Komada (Department of Electrical and Electronic Engineering, Mie University), Youwei Wang (ILE, Osaka University / Faculty of Engineering Science, Kansai University), Verdad C. Agulto, Valynn K. Mag-usara, Yasunobu Arikawa (ILE, Osaka University), Tatsunosuke Matsui (Department of Electrical and Electronic Engineering, Mie University), Youichi Sakawa, Makoto Nakajima (ILE, Osaka University)

阪大産研では、レーザーフォトカソードRF電子銃ライナックを利用し、高時間分解パルスラジオリシスによる反応解析および電子ビーム発生・計測の研究を行っている。このようなピコ秒・フェムト秒における電子の時間プロファイルの計測手法は、電子ビームを利用した時間分解計測のみならず、慣性核融合分野においても超高速プラズマダイナミクスの温度・密度情報を理解する観点から、必要となっている。 本発表では、電気光学サンプリングを用いた35 MeVの電子ビームのシングルショット時空間分布計測について報告する。エシェロンミラーもしくは回折格子によりフェムト秒レーザーの時空間分布を調整し、電子ビームが電気光学結晶へ作用したポッケルス効果をCCDカメラにより測定することによりシングルショット計測が可能となった。電子ビームの周りのテラヘルツ電場の時空間分布（電子ビームの進行方向の一軸とその垂直方向の空間の一軸）計測について報告する。