TUP050  ポスター①  10月18日 会議室P 13:30-15:30
次世代光源における過渡的電圧補償のための広帯域空洞コールドモデルの性能評価
Performance evaluation of the wide-band cavity cold-model to compensate the transient beam loading in the next generation light sources
 
○内藤 大地,山本 尚人,高橋 毅(高エ研),山口 孝明(総研大),坂中 章悟(高エ研)
○Daichi Naito, Naoto Yamamoto, Takeshi Takahashi (KEK), Takaaki Yamaguchi (SOKENDAI), Shogo Sakanaka (KEK)
 
第四世代リング型光源では横方向の極低エミッタンス実現を目指している。それにはバンチ内における電子同士の散乱を抑制するため、基本波の加速空洞の他に高調波空洞を導入してバンチ伸長を行う必要がある。しかしリング型光源ではイオン捕獲抑制のためのバンチギャップにより空洞内の電圧が時間変動してバンチ伸長の効率が悪化してしまう。そこで我々のグループでは広帯域キッカーを用いた過渡的電圧補償手法と具体的な広帯域キッカーのデザインについて提唱した[1][2]。そして前年度には補償空洞の性能実証をするため、アルミでできたコールドモデルの設計及び製造を行なった。本発表ではコールドモデルの機械設計と性能評価試験の状況について報告する。[1]N. Yamamoto et al., Phys. Rev. Accel. Beams 21, 012001. [2]D. Naito et al., Proc of IPAC2021.