TUP020 　ポスター①　 10月18日 会議室P 13:30-15:30

大強度・低速H-ビーム用バンチシェイプモニタを用いたビーム計測手法に関する研究

Studies of beam diagnostics with bunch-shape monitor for high-power and low-beta H- beam

○北村 遼，林 直樹，平野 耕一郎（JAEA），小坂 知史（NAT），宮尾 智章（KEK），根本 康雄（NAT），森下 卓俊（JAEA）

○Ryo Kitamura, Naoki Hayashi, Kouichiro Hirano (JAEA), Satoshi Kosaka (NAT), Tomoaki Miyao (KEK), Yasuo Nemoto (NAT), Takatoshi Morishita (JAEA)

大強度陽子加速器施設J-PARCリニアックでは、フロントエンドの大強度・低速H-ビームを測定するためにビーム熱負荷への耐久性を向上させた改良型バンチシェイプモニタ(BSM)を開発している。 ビームと相互作用させるプローブに新素材であるグラファイト製標的を導入することで、これまで不可能であった大強度ビーム中心領域でのプロファイル測定を実現した。 改良型BSMではビーム全体のプロファイルが測定可能になったため、BSMの特徴を生かした応用的なビーム診断手法を提案する。 本講演では、二次電子計測による横プロファイル測定、横プロファイルからのビーム電流測定等、BSM本来の目的である縦方向測定の枠組みを超えてBSMの多様な運用可能性について議論する。