THP022  ポスター③  10月20日 会議室P 13:00-15:00
GeV領域エネルギー電子を使った測定器開発用テストビームラインのワイヤーターゲットがPF-ARの蓄積ビームおよび入射ビームに与える影響
Effect of the GeV-range test beamline wire target on the stored and injected beams at KEK PF-AR
 
○高木 宏之,満田 史織,本田 融,内山 隆司,坂中 章悟,佐々木 洋征,谷本 育律,内藤 大地,中村 典雄,長橋 進也,野上 隆史,山本 尚人,池上 陽一,宇野 彰二,佐藤 康太郎,外川 学,中村 勇,花垣 和則,幅 淳二,森 隆志(KEK),安部 草太,寺村 七都,前田 順平(神戸大理),小田川 高大(京大理),鷲見 一路,前田 朱音(名大理)
○Hiroyuki Takaki, Chikaori Mitsuda, Tohru Honda, Takashi Uchiyama, Shogo Sakanaka, Hiroyuki Sasaki, Yasunori Tanimoto, Daichi Naito, Norio Nakamura, Shinya Nagahashi, Takashi Nogami, Naoto Yamamoto, Yoichi Ikegami, Shoji Uno, Kotaro Satoh, Manabu Togawa, Isamu Nakamura, Kazunori Hanagaki, Junji Haba, Takashi Mori (KEK), Sota Abe, Natsu Teramura, Jumpei Maeda (Kobe Univ.), Takahiro Odagawa (Kyoto Univ.), Kazumichi Sumi, Akane Maeda (Nagoya Univ.)
 
蓄積リング内にインターナルターゲットを設置し、蓄積ビームによる制動放射を利用してGeV領域エネルギー電子を生成する素粒子原子核実験用測定器開発のテストビームラインが、KEK PF-ARに建設された。PF-ARは放射光利用運転を行っており、今回建設したテストビームラインは放射光実験と並行して運用される。したがって、インターナルターゲットが放射光の品質に影響を及ぼす事は極力避ける必要があり、蓄積ビームと入射ビームへの影響がないように考慮する必要がある。GeV領域エネルギー電子の生成量を多くするにはワイヤーターゲットをビーム軌道中心に近づけた方が有利となる一方で、ターゲットとの相互作用により蓄積ビームの一部が失われるためビーム寿命は短くなる。どこまで近づける事ができるかはPF-ARのビーム寿命との兼ね合いとなる。また、2017年のKEK LINACからの直接入射路建設以降、PF-ARではトップアップ入射が実施されており、入射時のみターゲットワイヤーを抜くという事ができないため、入射ビームが失われることなくワイヤーの内側に放射減衰することも重要になる。今回の発表では、ターゲットワイヤーの蓄積ビームおよび入射ビームに対する影響を粒子トラッキングを用いて評価したので報告する。