THP023 　ビーム診断・ビーム制御　 8月12日 会議室P 13:10 - 15:10

J-PARCハドロンhigh-p ビームライン用高感度残留ガスプロファイルモニタの開発(2)

Development of high sensitivity residual gas ionization profile monitor for J-PARC hadron high-p beamline(2)

○豊田 晃久，青木 和也，上利 恵三，秋山 裕信，家入 正治，加藤 洋二，倉崎 るり，小松 雄哉，里 嘉典，澤田 真也，白壁 義久，高橋 仁，田中 万博，広瀬 恵理奈，皆川 道文，武藤 史真，森野 雄平，山野井 豊，渡辺 丈晃（KEK）

○Akihisa Toyoda, Kazuya Aoki, Keizo Agari, Hironobu Akiyama, Masaharu Ieiri, Yohji Kato, Ruri Kurasaki, Yusuke Komatsu, Yoshinori Sato, Shinya Sawada, Yoshihisa Shirakabe, Hitoshi Takahashi, Kazuhiro Tanaka, Erina Hirose, Michifumi Minakawa, Fumimasa Muto, Yuhei Morino, Yutaka Yamanoi, Hiroaki Watanabe (KEK)

J-PARCハドロン実験施設のBライン(高運動量ビームライン)は、Aラインの一次陽子ビームの一部を分岐させ使用するビームラインである。このビームラインは分岐部で削り出すのでビームロスがあり、放射線レベルは高い。しかし、輸送するビーム強度は比較的低いため、高感度でかつ放射線耐性の高いプロファイルモニタが必要となる。そこでビーム通過により残留ガスで生じた電離電子をバックグランドの低い光に変換し、光増幅してプロファイルを測定するモニタを考案した。現在実用化に向けてR&Dを進めている。今回の発表ではテストチェンバーおよび電子発生装置による電子を利用した発光体の発光効率測定実験、実機設計、および将来の展望などについて発表する。