WEOI01 　ビーム診断・ビーム制御①　 7月31日 国際科学イノベーション棟5階 ホール 15:40-16:00

コヒーレントスミス=パーセル放射を用いた非破壊型バンチ長モニターの研究

Study of non-destructive bunch length monitor using coherent Smith-Purcell radiation

○山田 悠樹，日出 富士雄，柏木 茂，武藤 俊哉，三浦 禎雄，南部 健一，高橋 健，長澤 育郎，鹿又 健，齊藤 寛峻，森田 希望，濱 広幸（東北大学電子光理学研究センター）

○Hiroki Yamada, Fujio Hinode, Shigeru Kashiwagi, Toshiya Muto, Sadao Miura, Kenichi Nanbu, Ken Takahashi, Ikuro Nagasawa, Ken Kanomata, Hirotoshi Saitou, Nozomu Morita, Hiroyuki Hama (Research center of electron photon science, Tohoku University)

スミス=パーセル放射は荷電粒子が金属周期構造の表面近くを通過するときに発生する放射現象である。この放射は観測角に応じた波長を持ち、使用する回折格子の周期長により観測する波長領域を選択できる。このとき荷電粒子のバンチ長が放射の波長よりも短い場合にはコヒーレント放射となる。この放射強度の角度分布からビームのスペクトル、即ちバンチの縦形状の情報が得られる。東北大学電子光理学センターの試験加速器t-ACTSでは100fs程度のバンチ生成が可能であり、これにより高品位なスミス=パーセル放射が得られる。今回の発表ではスミス=パーセル放射の観測に向けた準備を主に報告する。