WEP043  高周波加速構造  8月2日 第1,2,3,4会議室他 13:00 - 15:00
KEKにおける9セル超伝導空洞IHEP-04の内面検査
Inspection of inner surface in IHEP-04 9-cell cavity at KEK
 
○浅野 峰行,今田 信一,柳町 太亮,山田 浩気(日本アドバンストテクノロジー),梅森 健成,加古 永治(KEK),Zhai Jiyuan(IHEP)
○Mineyuki Asano, Shin-ichi Imada, Taisuke Yanagimachi, Hiroki Yamada (NAT), Kensei Umemori, Eiji Kako (KEK), Zhai Jiyuan (IHEP)
 
IHEP (Institute of High Energy Physics, Chinese academy of sciences)で製造されたTESLA型9セル超伝導空洞(IHEP-04)について、低温での空洞性能を確認するたて測定がKEKで行われた。IHEP-04空洞について、内面検査、電解研磨、アニール、プリチューニングなどの測定前準備作業が一通り実施された。本発表では、主にIHEP-04空洞の高電界性能に大きく関連する空洞内表面の検査結果について報告する。