THP048 　加速器技術／高周波加速空胴　 8月6日 小ホール 13:00 - 15:00

高純度銅の低温でのQ値特性試験

Testing the cryogenic Q-factor property of high-purity copper

○飯野 晃弘（総研大）

○Akihiro Iino (SOKENDAI)

現在、株式会社トヤマ高エネルギー加速器研究機構及び日本大学を中心としクライオ電子リニアックを基盤とするコンパクト空間干渉性X線（PXR）源の開発を行っている。この加速器では75MeVに加速させた電子を単結晶に衝突させPXRを発生させる。単結晶を通過した電子ビームを減速管で3eVまで減速させ、その後ダンプに衝突させる。医療応用を想定している本加速器において、加減速管の小型化が技術課題の１つであり、小型で高効率な加減速を得るため加減速管は極低温下に置き、極低温でより電気抵抗率が低くなる高純度銅（純度:6N8）を母材とした。本発表では、高純度銅について極低温で残留抵抗（電気抵抗）が小さくなる程度を示す指数である残留抵抗比（RRR：Residual Resistivity Ratio）と、極低温でのQ値の関係を計算及び測定より得た結果を一般的な加速管材料として用いられる無酸素銅（class 1）のものと比較し報告する。