SUP079 　ポスターセッション２　 8月4日 豊田講堂２階ロビー 13:00 - 15:00

SPring-8分割型アンジュレータ・ビームラインの光位置モニタの校正

Calibration of X-ray Beam Position Monitor for a Segmented Undulator Beamline at SPring-8

○青柳 秀樹（高輝度光科学研究センター），バロン アルフレッド（理研　SPring-8センター），早乙女 光一，高雄 勝，下崎 義人（高輝度光科学研究センター），長谷川 誠（スプリングエイトサービス），高橋 直（高輝度光科学研究センター）

○Hideki Aoyagi (JASRI/SPring-8), Alfred Baron (RIKEN SPring-8 Center), Kouichi Soutome, Masaru Takao, Yoshito Shimosaki (JASRI/SPring-8), Makoto Hasegawa (SPring-8 Service ), Sunao Takahashi (JASRI/SPring-8)

SPring-8では、30本余りのアンジュレータ・ビームラインが稼働しており、そのすべてのビームラインにおいて光位置モニタが利用されている。この光位置モニタは、光電子放出型を検出原理とするもので、４枚のブレード型検出素子をビーム・プロファイルの裾に配置させ、信号の配分比に補正係数を乗じることによってビーム位置の情報を得ている。これまでのアンジュレータは、１本のビームライン当たり１台、若しくは、近接する２台で構成されていた。この場合には、上記補正係数の校正は、ビームを実際に変位させるのでなく、模擬的に光位置モニタの検出部を上下・左右に移動させることで代替することが出来た。しかしながら、理研 量子ダイナミクス・ビームラインBL43LXUでは、今年度より高度化され、SPring-8蓄積リング長直線部に全長5メートルで独立にGap操作ができるアンジュレータが約10メートル間隔で3台設置されることとなった。その結果、光源中心より35m下流の光位置モニタが、同時に3台のアンジュレータからの放射光の影響を受け、これまで通りの補正係数校正の方式が使えなくなった。そこで、BL43LXUでは、電子ビーム軌道を各アンジュレータの位置で独立に変位させることにより、補正係数を校正した。本発表では、校正の手順、校正結果、及び、これまでの校正方法が適用出来なかった原因について報告する。