SAP087  ポスターセッション1  8月3日 豊田講堂2階ロビー 13:00 - 15:00
ハローモニタを用いた垂直ビームプロファイルの測定
Measurement of vertical beam profile using halo monitor
 
○大島 隆,前坂 比呂和,大竹 雄次(理研 放射光科学総合研究センター),松原 伸一(高輝度光科学研究センター),井上 忍(スプリングエイトサービス(株))
○Takashi Ohshima, Hirokazu Maesaka, Yuji Otake (RIKEN SPring-8 Center), Shin-ichi Matsubara (JASRI), Shinobu Inoue (SPring-8 Service Co., Ltd.)
 
放射光発生に使用されるアンジュレータの永久磁石は4E14個の高エネルギー電子ビームの照射によって1%の磁力の低下が起こることが報告されている。例えば年間7000時間、60ppsの運転を10年間続けた場合、ハローの電子数を4E14個以下に抑えるためには、1ショット当たり4fC以下に抑える必要がある。X線自由電子レーザー施設SACLAでは、ハローの磁石への照射量を監視するために、ハローモニタがBL3アンジュレータの上流部に設置されている。このモニタでは水平方向に10mm、垂直方向1mmの幅の電極を取り付けた0.3mm厚のダイヤモンドブレードに100Vのバイアス電圧を印加し、電子ビームが通過したときに発生する電子、正孔対の信号を検出している。このハローモニタを使って電子ビームの垂直方向のプロファイルの測定を行った。この測定結果とスクリーンモニタを組み合わせることにより5桁の広いダイナミックレンジに渡って電子ビームの垂直方向のプロファイルを求めることができた。一例として電荷量143pCのビームに対して電子密度がピークの1/10、1/10000となる領域は全幅でそれぞれ0.35mm、1.1mmであった。SACLAではユーザー運転時にY方向の電子密度の広がりが十分に小さいビームが安定に供給されていて、そのハロー成分が1fC以下であることがこのモニタを用いて確認された。